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    KINO 300F

      半导体衬底,芯片,先进封装,集成电路,新型显示等领域搭配金相显微光学系统,实现手/自动晶圆正背面宏微观检查。
      可选用DUV光学系统,实现CD量测功能。
      可选用红外IR光学系统,实现穿透晶圆检测。
      可导入KLAF/Bin Map档案,实现自动拍照/判级导出。
    产品详情

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