KINO 300F

半导体衬底，芯片，先进封装，集成电路，新型显示等领域搭配金相显微光学系统，实现手/自动晶圆正背面宏微观检查。
可选用DUV光学系统，实现CD量测功能。
可选用红外IR光学系统，实现穿透晶圆检测。
可导入KLAF/Bin Map档案，实现自动拍照/判级导出。